在整定的環境條件下，1.13In 電流1h 內不脫扣；在整定的環境條件下，1.45In 電流1h 脫扣。    

經闡發，呈現這類成績的緣故原由重要有用于過流掩護的雙金屬片品質不穩定，舉措光陰團圓性較大，形成企業無奈對產物停止定量的查驗企業在校驗時平日采納2.5In 疾速校驗法等效，但對2.5In 的舉措光陰所對應的1.13In 和1.45In 舉措光陰未加驗證。至多是兩個分歧光陰進貨的分歧批號的雙金屬片未加驗證，因分歧批號的雙金屬片的特征能夠分歧，如不加驗證，形成校驗出的產物舉措光陰不精確。

呈現上述成績的產物能夠形成以下的效果帶過電流掩護功效的小型斷路器假如未過載就不失常跳閘舉措，影響了用戶的失常用電，形成不該有的喪失。呈現過載的環境應當跳閘舉措時，沒有失常跳閘舉措未起到過載掩護感化，無奈打消現實應用中毛病所激發的火警隱患，無奈避免風險的產生.帶有短路掩護的泄電斷路器在運轉短路才能方面的毛病運轉短路才能是小型斷路器的重要目標之一，它是小型斷路器的才能表征和工藝計劃程度的表征。因為運轉短路才能是機能的極限，以是呈現的成績絕對較多，產生的緣故原由也絕對較多。試品決裂產生的緣故原由有產物外殼資料不符合機能請求，外殼厚度不敷或外殼資料身分比例紕謬，使外殼無奈招架試品在分斷短觸頭資料不符合請求，有些企業用非銀基合金，乃至用裸銅，使產物在分斷短路電流時觸頭過火燒損，觸頭超程缺失，形成試品在實驗進程當中產生無奈合閘.產物外部軟銜接、線圈線徑太小，在大容量的短路電流暢過期產生低溫，招致外部機構變型，合閘機構無奈到位，形成試品在實驗進程當中產生無奈合閘的征象。    

滅弧機能不良，無奈疾速滅弧，使分斷進程當中產生的電弧能量滯留在產物外部，招致外部機構燒損，形成試品在實驗進程當中產生無奈合閘征象,接通和分斷殘剩電流時的毛病在停止額外殘剩接通和分斷才能實驗時，產物呈現不舉措征象.產生的緣故原由有：產物中的零序互感器機能欠安或太小，在路線中忽然呈現較大的泄電毛病電流時，零序互感器產生磁飽和，無奈輸入精確的脫扣電流，泄電脫扣器無奈精確舉措。    

呈現上述成績能夠產生的效果：當用電裝備因絕緣毀壞所產生接地毛病電流時，對付泄電斷路器產物必需具有靠得住分斷才能。假如產物呈現不克不及失常分斷殘剩短路電流，那末就無奈打消現實應用中毛病所激發的火警隱患。    

避免呈現毛病的對策針對上述成績，倡議采納以下辦理對策：嚴厲把住雙金屬的品質，確保雙金屬片的品質；進步企業查驗職員的本質，進步查驗儀表的精確度；嚴厲把住進貨品質關，確保殼體資料、觸頭資料、零序電流互感器、滅弧柵片等外部元件的品質。濾波補償裝置